Главная           Международное сотрудничество          Услуги          Контакты          Наиболее существенные результаты и дости          Публикации          Кадры          Методическое обеспечение          Результаты и достижения
 >
 
Новости
Руководство
Структура
Оборудование
Документы
Конференции
 

Отделение экспериментальных работ и измерений
Отдел сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)

Руководители отдела:

    г.н.с, проф., д.ф.-м.н. Бухараев Анастас Ахметович, 420029, Казань, Сибирский Тракт 10/7, Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского, Лаборатория физики и химии поверхности, Отдел химической физики, тел.: (843)231-91-07 e-mail: a_bukharaev@kfti.knc.ru

    Кадровый состав:

    один доктор наук, три кандидата наук, 3 м.н.с, 2 лаборанта, 1 инженер.

    Виды работ:

    Изучение свойств наноструктурированных материалов и физико-химических процессов на их поверхности, поиск новых сред для записи и хранения информации, получение новых данных о межмолекулярном взаимодействии органических, биоорганических, полимерных соединений, различных биологических структур (клеток крови и тканей).

    Применяемые методы:

    - сканирующая туннельная микроскопия в сверхвысоком вакууме;
    - атомно-силовая микроскопия в жидкости, на воздухе и в сверхвысоком вакууме;
    - магнитно-силовая микроскопия;
    - сканирующая ближнеполевая оптическая микроскопия.

    Используемые методики:

    - Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов с пространственным разрешением до 0.1 нм;
    - атомно-силовая микроскопия конденсированных сред и биологических объектов в заданной атмосфере и в жидкости с пространственным разрешением до 1 нм;
    - атомно-силовая спектроскопия (измерение локальных адгезионных и упругих свойств) конденсированных сред и биологических объектов в заданной атмосфере и в жидкости;
    - магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных планарных структур в магнитных полях до 0.2 Тл;
    - сканирующая ближнеполевая оптическая микроскопия с оптическим разрешением 50 нм;
    - измерения в газовой атмосфере и в жидкости проводятся в интервале температур от 20 до 100 оС. Измерения в сверхвысоком вакууме в интервале температур от 20 до 1500 К;
    - исследование свойств биологических объектов под действием различных внешних факторов возможно в реальном масштабе времени в условиях, близким к нативным.

    Оборудование отдела:

    Микроскоп VT AFM 25 на базе сверхвысоковакуумной установки Multiprobe P фирмы Omicron (Германия)

    В 2006 году введен в эксплуатацию сканирующий зондовый микроскоп VT AFM 25 на базе сверхвысоковакуумной установки Multiprobe P фирмы Omicron (Германия), который позволяет получать изображения поверхности с атомарным разрешением в режимах сканирующей туннельной микроскопии, а так же контактной и бесконтактной атомно-силовой микроскопии.






    Изображение отдельных атомов кремния – структура Si(111)-(7х7), полученное с помощью сверхвысоковакуумного сканирующего туннельного микроскопа фирмы Omicron.









    Сканирующий зондовый микроскоп Solver BIO с видиосистемой


    АСМ изображения эритроцитов, полученных с помощью Solver BIO на воздухе (а) и в физиологическом растворе (б).


    АСМ изображения кутикул на поверхности волоса человека, полученное с помощью Solver BIO.


    Сканирующий зондовый микроскоп Solver Р47.


    АСМ изображения сформированных на поверхности угольного электрода наночастиц Pd, полученные в режиме топографии (а) и фазового контраста (б).


    а - фрагмент пленки ингибитора на поверхности стали. б - тонкая структура (мицеллы) пленки ингибитора, используемой для защиты металла от коррозии.


    Сканирующий зондовый микроскоп SMENA, совмещенный с электромагнитом


    Магнитно-силовые изображения, иллюстрирующие трансформацию доменной структуры микрочастицы кобальта при изменении внешнего магнитного поля от 0 до 50


    Рабочее место, оснащенное микроскопом Solver P4, для проведения физпрактикума по теме “Исследования поверхности твердых тел с помощью атомно-силового микроскопа”.


    Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47Н, оснащенный системой видионаблюдения и вибрационной защитой.


    Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator.


    АСМ-изображение поверхности серебряного покрытия пьезокварцевого резонатора (образец, используемый на физпрактикуме).